常州同惠TH511半導體C-V特性分析儀概述：
TH510系列半導體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。
TH510系列半導體C-V特性分析儀**性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù)，適用于生產(chǎn)線快速分選、自動化集成測試及滿足實驗室研發(fā)及分析。
TH510系列半導體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz， VGS電壓可達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分析。得益于10.1英寸、分辨率達1280*800的電容式觸摸屏，TH510系列半導體器件C-V特性分析儀可將四個參數(shù)同屏顯示、所有設(shè)置、監(jiān)視、分選參數(shù)、狀態(tài)等可以在同一屏顯示，避免了頻繁的切換的操作。
常州同惠TH511半導體C-V特性分析儀功能特點：
A.單點測試，10.1英寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示，讓細節(jié)一覽無遺
10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率，Linux系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN接口，帶來了無以倫比的操作便捷性。
MOSFET*重要的四個寄生參數(shù)：Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個界面直接顯示測量結(jié)果，并將四個參數(shù)測試等效電路圖同時顯示，一目了然。
多至6個通道測量參數(shù)可快速調(diào)用，分選結(jié)果在同一界面直接顯示。
B.列表測試，靈活組合
TH510系列半導體C-V特性分析儀支持*多6個通道、4個測量參數(shù)的測試及分析，列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測量條件任意組合，并可設(shè)置極限范圍，并顯示測量結(jié)果 。
C.曲線掃描功能（選件）
TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析，可以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描，可同時顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。
D.簡單快捷設(shè)置
E.10檔分選及可編程HANDLER接口
儀器提供了10檔分選，為客戶產(chǎn)品質(zhì)量分級提供了可能，分選結(jié)果直接輸出至HANDLER接口。
在與自動化設(shè)備連接時，怎么配置HANDLER接口輸出，一直是自動化客戶的難題，TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對應信號、應答方式等完全可視化，讓自動化連接更簡單。
F.支持定制化，智能固件升級方式
同惠儀器對于客戶而言是開放的，儀器所有接口、指令集均為開放設(shè)計，客戶可自行編程集成或進行功能定制，定制功能若無硬件更改，可直接通過固件升級方式更新。
儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等，都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新，而無需返廠進行。
固件升級非常智能，可以通過系統(tǒng)設(shè)置界面或者文件管理界面進行，智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級包，并自動進行升級
G.半導體元件寄生電容知識
在高頻電路中，半導體器件的寄生電容往往會影響半導體的動態(tài)特性，所以在設(shè)計半導體元件時需要考慮下列因數(shù)
在高頻電路設(shè)計中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響；MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅(qū)動能力和開關(guān)損耗等多方面特性；寄生電容的電壓依賴性在電路設(shè)計中也是至關(guān)重要，以MOSFET為例。
H.標配附件
常州同惠TH511半導體C-V特性分析儀技術(shù)參數(shù)：
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產(chǎn)品型號
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TH511
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TH512
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TH513
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通道數(shù)
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2（可選配4/6通道）
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2
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顯示
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顯示器
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10.1英寸(對角線)電容觸摸屏
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比例
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16:9
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分辨率
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1280×RGB×800
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測量參數(shù)
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CISS、COSS、CRSS、Rg，四參數(shù)任意選擇
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測試頻率
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范圍
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10kHz-2MHz
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精度
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0.01%
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分辨率
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10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz
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100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz
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1Hz 100.000kHz-999.999kHz
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10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz
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測試電平
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電壓范圍
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5mVrms-2Vrms
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準確度
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±（10%×設(shè)定值+2mV）
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分辨率
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1mVrms 5mVrms-1Vrms
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10mVrms 1Vrms-2Vrms
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VGS電壓
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范圍
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0 - ±40V
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準確度
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1%×設(shè)定電壓+8mV
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分辨率
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1mV 0V - ±10V
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10mV ±10V -±40V
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VDS電壓
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范圍
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0 - 200V
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0 - 1500V
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0 - 3000V
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準確度
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1%×設(shè)定電壓+100mV
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輸出阻抗
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100Ω，±2%@1kHz
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數(shù)學 運算
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與標稱值的**偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ%
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校準功能
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開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD
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測量平均
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1-255次
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AD轉(zhuǎn)換時間（ms/次）
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快速+：0.56ms(＞5kHz) 快速：3.3ms 中速：90ms 慢速：220ms
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*高準確度
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0.1%（具體參考說明書）
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CISS、COSS、CRSS
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0.00001pF - 9.99999F
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Rg
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0.001mΩ - 99.9999MΩ
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Δ%
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±（0.000% - 999.9%）
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多功能參數(shù)列表掃描
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點數(shù)
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20點，每個點可設(shè)置平均數(shù)，每個點可單獨分選
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參數(shù)
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測試頻率、Vg、Vd、通道
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觸發(fā)模式
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順序SEQ：當一次觸發(fā)后，在所有掃描點測量，/EOM/INDEX只輸出一次
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步進STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量，每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結(jié)果只在*后的/EOM才輸出
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圖形掃描
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掃描點數(shù)
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任意點可選，*多1001點
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結(jié)果顯示
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同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線
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顯示范圍
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實時自動、鎖定
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坐標標尺
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對數(shù)、線性
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掃描參數(shù)
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Vg、Vd
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觸發(fā)方式
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單次
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手動觸發(fā)一次，從起點到終點一次掃描完成，下個觸發(fā)信號啟動新一次掃描
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連續(xù)
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從起點到終點無限次循環(huán)掃描
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結(jié)果保存
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圖形、文件
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比較器
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Bin分檔
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10Bin、PASS、FAIL
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Bin偏差設(shè)置
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偏差值、百分偏差值、關(guān)
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Bin模式
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容差
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Bin計數(shù)
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0-99999
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檔判別
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每檔*多可設(shè)置四個參數(shù)極限范圍，四個測試參數(shù)結(jié)果設(shè)檔范圍內(nèi)顯示對應檔號，超出設(shè)定*大檔號范圍則顯示FAIL，未設(shè)置上下限的測試參數(shù)自動忽略檔判別
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PASS/FAIL指示
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滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮，否則FAIL燈量
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存儲調(diào)用
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內(nèi)部
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約100M非易失存儲器測試設(shè)定文件
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外置USB
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測試設(shè)定文件、截屏圖形、記錄文件
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鍵盤鎖定
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可鎖定前面板按鍵，其他功能待擴充
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接口
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USB HOST
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2個USB HOST接口，可同時接鼠標、鍵盤，U盤同時只能使用一個
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USB DEVICE
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通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USB TMC-USB488和USB2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。
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LAN
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10/100M以太網(wǎng)，8引腳，兩種速度選擇
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HANDLER
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用于Bin分檔信號輸出
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RS232C
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標準9針，交叉
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RS485
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可以接收改制或外接RS232轉(zhuǎn)RS485模塊
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開機預熱時間
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60分鐘
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輸入電壓
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100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz
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功耗
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不小于130VA
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尺寸（WxHxD）mm
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430x177x405
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重量
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16kg
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常州同惠TH511半導體C-V特性分析儀應用：
■ 半導體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光
電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析
■ 半導體材料
晶圓、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數(shù)分析
